TEM（透射电子显微镜）和STEM（扫描透射电子显微镜）都是强大的显微镜技术，用于观察材料的微观结构，但它们在工作原理和观察方式上存在显著差异。
TEM使用透射电子束穿过薄样品，通过观察电子束的透射和衍射来获取样品的图像。TEM的分辨率非常高，可以达到亚埃级别，适用于观察材料的晶体结构、缺陷和纳米结构。然而，TEM的样品制备要求较高，需要制备非常薄的样品，这可能会影响样品的原始状态。
STEM则是在TEM的基础上发展而来，它使用电子束在样品表面进行扫描，通过收集电子束的散射和透射信号来获取样品的图像。STEM不仅可以观察到样品的表面结构，还可以观察到样品的内部结构。STEM的分辨率更高，可以观察到更小的细节，而且样品制备相对简单，不需要制备非常薄的样品。
总的来说，TEM和STEM都是强大的显微镜技术，但它们在工作原理和观察方式上存在显著差异。TEM适用于观察材料的晶体结构和缺陷，而STEM则可以观察到样品的表面和内部结构，分辨率更高。根据研究需求选择合适的显微镜技术是非常重要的。